ナノ領域での電磁場・伝導性・構造の多元解析
更新：2019-01-18
電子線の干渉効果を利用した「電子線ホログラフィー」という最新の科学技術を活用し、先端材料内外の電磁場を高精度で計測する研究を行っている。電磁場観察用に改造された透過電子顕微鏡、および、独自に開発した複数探針付試料ホルダ等を用いて、下記の課題に取り組んでいる。
1.電子線ホログラフィーによるナノスケール電磁場計測の高精度化
2.電磁場制御と伝導性評価のための電顕内探針操作技術の開発
3.電場解析による帯電・電子放出機構の解明
4.先端ハード・ソフト磁性材料のナノスケール磁区構造解析
5.高温超電導体、強相関電子系物質の磁束イメージング
産学連携の可能性（想定される用途・業界）
先端材料・デバイスの「構造」・「電磁場」・「伝導性」をナノスケールで評価する多元的解析を展開している。
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