ナノスケールでの結晶構造・電子状態解析技術の開発と応用


更新:2020/06/16
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特徴・独自性
  • 透過型電子顕微鏡(TEM)で、組成・結晶構造を評価した領域の精密構造解析、物性測定を可能とするため、独自の実験装置・解析技術開発(分光型収束電子回折TEM、高分解能EELSTEM、軟X線発光分光TEM)と、その物性物理学への基礎的応用(フラレン、ナノチューブ、ボロン化合物、GMR物質、準結晶等)を行っている。また、東北大オリジナルの軟X線発光分光装置の実用化を目指し、企業等との共同研究開発を継続中。
実用化イメージ

半導体、誘電体、金属などの顕微解析による構造・物性評価に関する共同研究や、分析技術に関する学術指導が想定される。

キーワード

研究者

多元物質科学研究所
計測研究部門
電子回折・分光計測研究分野

寺内 正己 教授 
理学博士(東北大学)

Masami Terauchi, Professor