マイクロ波を用いた高速配管探傷法


更新:2020/06/16
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特徴・独自性
  • マイクロ波を用いて配管内面の広域一括探傷を行う技術の開発を行なっている。配管内部に数GHz 〜数十GHz のマイクロ波を入射し、その反射および透過の様子から、傷の位置及び大まかな性状を評価する。本技術においてはプローブを配管内部で移動させることは不要であり、またマイクロ波は配管内部を極めて低損失で伝播することから、従来技術に比してはるかに高速な検査が実現されるものと期待される。
実用化イメージ

全数検査が必要である、もしくは対象が長大・複雑等の理由により、従来技術を用いた検査が困難である配管に対して、本技術の有効性は特に高いと考えられる。

キーワード

研究者

大学院工学研究科
量子エネルギー工学専攻
エネルギー物理工学講座(核融合・電磁工学分野)

橋爪 秀利 教授 
工学博士(東京大学)

Hidetoshi Hashizume, Professor