ナノスケールでの結晶構造・電子状態解析技術の開発と応用
更新：2020-06-16
特徴・独自性
透過型電子顕微鏡（TEM）で、組成・結晶構造を評価した領域の精密構造解析、物性測定を可能とするため、独自の実験装置・解析技術開発（分光型収束電子回折TEM、高分解能EELSTEM、軟X線発光分光TEM）と、その物性物理学への基礎的応用（フラレン、ナノチューブ、ボロン化合物、GMR物質、準結晶等）を行っている。また、東北大オリジナルの軟X線発光分光装置の実用化を目指し、企業等との共同研究開発を継続中。産学連携の可能性 （想定される用途・業界）
半導体、誘電体、金属などの顕微解析による構造・物性評価に関する共同研究や、分析技術に関する学術指導が想定される。研究者
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関連情報
1. Kenji Tsuda, et al.; Nanoscale local structures of rhombohedral symmetry in the orthorhombic and tetragonal phases of BaTiO3 studied by convergent-beam electron diffraction. Physical Review B, vol.86, 214106-1-5 (2012)
2. Yohei Sato, et al.; High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study on the near-infrared scattering mechanism of Cs0.33WO3 crystal and nanoparticles. Journal of Applied Physics, vol.112, 074308 (2012).
3. Masami Terauchi, et al.; Ultrasoft-X-ray emission spectroscopy by using a newly designed WDS spectrometer attached to a transmission electron microscope. Journal of Electron Microscopy, vol.61, 1-8 (2012).
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