透過型電子顕微鏡（TEM）で、組成・結晶構造を評価した領域の精密構造解析、物性測定を可能とするため、独自の実験装置・解析技術開発（高分解能EELSTEM、軟X 線発光分光TEM）と、その物性物理学への基礎的応用（フラレン、ナノチューブ、ボロン化合物、GMR 物質、準結晶等）を行っています。また、商用化したオリジナルの軟X 線発光分光装置の応用と性能向上を目指し、企業等との共同研究開発を継続中です。

半導体、誘電体、金属などの顕微解析による構造・物性評価に関する共同研究や、分析技術に関する学術指導が想定されます。

• 電子顕微鏡
• 顕微鏡
• 収束電子回折
• 電子エネルギー損失分光
• 軟X線発光分光
• 構造評価
• 物性評価