X線位相イメージングによる高感度非破壊検査装置の開発
更新:2020/06/16
- 特徴・独自性
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- 通常のX線透視撮影は軽元素からなる高分子材料などの低密度材料に対して明瞭なコントラストを生成しない。しかし、X線が物質を透過するとき、わずかに屈折により曲げられることを検出・画像化することで、そのような物質に対する感度が大幅に改善される。X線透過格子を用いるX線Talbot 干渉計あるいはX線Talbot-Lau干渉計によりこれが実験室で実施できるようになった。高感度三次元観察を可能とするX線位相CT も実現している。
- 実用化イメージ
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工業製品検査や保安目的のX線非破壊検査を、従来法では適応が難しかった対象に拡張できる。X線マイクロCT装置への位相コントラストモード付加、生産ラインでのX線検査装置の高度化などが開発目標となる。
- キーワード
研究者
多元物質科学研究所
計測研究部門
量子ビーム計測研究分野
百生 敦 教授
工学修士(東京大学)/博士(工学)(東京大学)
Atsushi Momose, Professor