放射光による原子スケールの構造測定
更新：2022-06-08
特徴・独自性
主に放射光の回折を用いて、高い精度で構造観測を行います。通常の単結晶構造解析のような手法では無く、周期性が完全でない物・表面や界面の構造解析を行うのが特徴です。有機半導体の表面構造緩和や、酸化物の界面構造などの測定を多く手掛けています。ある程度平滑な表面があれば、その表面近傍の構造を非破壊・非接触で0.01nmの精度で決める事が可能です。産学連携の可能性 （想定される用途・業界）
固液界面でのプロセスの進行過程を見るような応用が考えられます。 図1:測定セットアップ，図2：20ms露光でのX線反射率測定による固液界面構造観測例研究者
大学院理学研究科・理学部 物理学専攻 電子物理学講座 微視的構造物性分野
若林 裕助
教授
博士（理学）
WAKABAYASHI Yusuke, Professor
キーワード
関連情報
論文：Early stages of iron anodic oxidation: Defective growth and density increase of oxide layer，H.Fujii, Y.Wakabayashi and T.Doi, Phys. Rev. Materials 4, 033401 (2020).
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