通常のX 線透視撮影は軽元素からなる高分子材料などの低密度材料に対して明瞭なコントラストを生成しません。しかし、X 線が物質を透過するとき、わずかに屈折により曲げられることを検出・画像化することで、そのような物質に対する感度が大幅に改善されます。X 線透過格子を用いるX 線Talbot 干渉計あるいはX 線Talbot-Lau 干渉計によりこれが実験室で実施できるようになりました。高感度三次元観察を可能とするX 線位相CT も実現しています。

工業製品検査や保安目的のX 線非破壊検査を、従来法では適応が難しかった対象に拡張できます。X線マイクロCT 装置への位相コントラストモード付加、生産ラインでのX 線検査装置の高度化などが開発目標となります。

• X線
• 非破壊検査
• 位相
• 小角散乱
• イメージング
• 断層撮影
• トモグラフィ
• CT